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Pinces optiques avec suivi de particules en 3D NanoTracker JPK Instruments
Le NanoTracker™ est la dernière innovation technologique de JPK Instruments. C’est un nouveau système de pince optique couplé à un microscope inversé à fluorescence. Il combine la technique de piège de particules avec un laser (à 1064 nm) à un module de détection des forces.

Cet instrument peut fonctionner sous deux modes :
un mode de suivi des particules en trois dimensions
un mode qui impose un mouvement en 3D aux dites particules

Il va permettre de piéger (ou de suivre) de façon indépendante deux particules dans un volume de 100 x 100 x 100µm3. La taille de ces particules peut varier de quelques µm à moins de 30nm.

Company
LOT ORIEL France
4 allée des Garays
91120 palaiseau ()
Homepage: http://www.lot-oriel.fr

Contact
Duprat Anne
Phone: 00 33 (0) 169 19 49 49
Fax: 00 33 (0) 169 19 49 30
duprat@lot-oriel.fr