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EUV bzw. XUV Reflektometer und Spektrophotometer
EUV-Reflektometer für die Vermessung von Nanoschichtsystemen mit Sensitivitäten im Bereich von 0.01 nm bzw. < 0.1 %.

Company
Bruker Advanced Supercon GmbH
Friedrich-Ebert-Str. 1
51429 Bergisch-Gladbach ()
Homepage: http://www.bruker-est.com/about-basc-gmbh.html

Contact
Dr. Lebert Rainer
Phone: 0241 8906 141 bzw. 02204 84 3850
Fax: 0241 8906 121 bzw. 02204 84 5001
rainer.lebert@bruker-asc.com